儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司
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詳細(xì)摘要： 高分辨率納米粒度和Zeta電位分析儀是基于動態(tài)光散射（DLS）和激光多普勒電泳（LDE）技術(shù)，提供高分辨率，和快速的粒度和zeta電位測試和遠(yuǎn)程原位測試。
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-03-11 在線留言
詳細(xì)摘要： 法國Cordouan 生產(chǎn)的Vasco kin 納米粒度分析儀用于復(fù)雜介質(zhì)中納米顆粒的粒度表征，其性能遠(yuǎn)優(yōu)于目前市面上流行的動態(tài)光散射法納米粒度儀。經(jīng)過短短四年...
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